研究人员已成功开发出一种能够在电子元件运行过程中“窥探”其内部情况的方法。这一突破性进展使专家能够实时观察硬件内部的物理过程，从而超越了传统的诊断工具。
该团队目前正专注于硬件安全领域，并计划测试这种观测能力是否能直接从芯片中提取加密数据。通过观察晶体管在处理信息时的物理状态，研究人员希望能够绕过软件层面的安全防护措施。
硬件运行过程的可视化
传统的芯片检测方法通常需要破坏性手段，或者需要使用仅在设备断电时才能工作的专用设备。而这种新方法可以在保持硬件运行状态的同时，实时呈现数据在电路中流动的过程。
研究人员指出，通过监测高负载运行期间的电磁辐射或热特征，可能会揭示与加密密钥相关的模式。如果该方法取得成功，现有的基于硬件的加密协议可能会面临物理观测带来的安全威胁。
长期以来，安全专家一直在争论硬件级加密在面对复杂的物理监控时究竟有多强。这项研究提供了一个直观的视角，展示了在不触及软件层的情况下，敏感信息是如何可能被窃取的。
尽管该技术仍处于实验阶段，但这种实时监控硬件的潜力为制造商带来了新的挑战。该团队计划进一步发布研究成果，探讨如何从现代处理器复杂的噪声中分离出特定的数据流。他们的工作表明，硬件运行的物理特性可能很快就会成为安全研究的主要目标。
